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奧博斯檢測(cè)

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無(wú)損檢測(cè)有哪些方式?

點(diǎn)擊次數(shù):  更新時(shí)間:2022-02-26 16:50:43

無(wú)損檢測(cè),英文名Non Destructive Testing簡(jiǎn)稱:NDT。是工業(yè)中無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的總稱。隨著科學(xué)技術(shù)的進(jìn)步,工業(yè)制造工件的工藝越來(lái)越復(fù)雜,要求的質(zhì)量性能越來(lái)越高,無(wú)損檢測(cè)技術(shù)就是保證工件質(zhì)量的最有力技術(shù)之一。其中無(wú)損檢測(cè)技術(shù)以不破壞檢測(cè)工件,不破壞工件物理結(jié)構(gòu),直接或者間接檢測(cè)出工件表面或者內(nèi)部質(zhì)量缺陷的技術(shù)為主要特點(diǎn)。


奧博斯檢測(cè)無(wú)損檢測(cè)


針對(duì)不同類型,不同材料,不同尺寸,不同環(huán)境中的工件有著不同的無(wú)損檢測(cè)方法,



常見(jiàn)的無(wú)損檢測(cè)方法有五種:



1.超聲無(wú)損檢測(cè)(UT



超聲無(wú)損檢測(cè) 簡(jiǎn)稱UT:工業(yè)中超聲無(wú)損檢測(cè)是檢測(cè)一個(gè)零部件質(zhì)量的最具有權(quán)威的檢測(cè)手段之一,超聲無(wú)損檢測(cè)以檢測(cè)范圍廣,穿透性強(qiáng),檢測(cè)精準(zhǔn),較低的檢測(cè)成本,對(duì)工件人體無(wú)任何危害、實(shí)時(shí)精準(zhǔn)判斷材料內(nèi)部氣泡.空洞.裂紋.及面積型缺陷,受到工業(yè)制造企業(yè)極度認(rèn)可。其實(shí)超聲檢測(cè)領(lǐng)域可分為低頻超聲檢測(cè)(0.2-20MHZ)領(lǐng)域和高頻檢測(cè)領(lǐng)域:低頻超聲領(lǐng)域常見(jiàn)的有(便攜式無(wú)損探傷儀)一般應(yīng)用于尺寸比較大的工件內(nèi)部缺陷檢測(cè),比如大型金屬管道,鐵軌,橋梁,等大型金屬構(gòu)件。低頻超聲檢測(cè)優(yōu)點(diǎn)是方便攜帶,檢測(cè)精準(zhǔn),對(duì)檢測(cè)環(huán)境要求低。一般成像的是一條波形圖,在我國(guó)需要考取專業(yè)的超聲無(wú)損探傷證書(shū)人員才能根據(jù)波形圖做出準(zhǔn)確缺陷位置判斷。


奧博斯檢測(cè)超聲掃描顯微鏡
奧博斯檢測(cè)超聲掃描探頭


一般超聲頻率越強(qiáng),檢測(cè)分辨率越高成像越清晰。在高頻超聲檢測(cè)領(lǐng)域20MHZ以上,檢測(cè)精度最高可達(dá)微米的級(jí)別。(超聲掃描顯微鏡)及以上就是其中的代表,成像結(jié)果是一張精準(zhǔn)反應(yīng)材料工件內(nèi)部的超聲圖像,可對(duì)工件進(jìn)行逐層檢測(cè),成像精準(zhǔn)直觀。適用于金剛石復(fù)合片,復(fù)合材料,芯片半導(dǎo)體集成電路等相關(guān)精密零部件等相對(duì)精度要求高的工件,進(jìn)行內(nèi)部缺陷檢測(cè)。由于高頻超聲領(lǐng)域技術(shù)難度極為復(fù)雜,涉及各個(gè)學(xué)科的緊密配合,其技術(shù)一度被美國(guó)德國(guó)日本等國(guó)家壟斷,目前我國(guó)僅有一家上海和伍智造營(yíng)Hiwave一家生產(chǎn)超聲掃描顯微鏡的研發(fā)制造企業(yè),在高頻超聲領(lǐng)域有著專業(yè)的檢測(cè)技術(shù)與方案,為國(guó)內(nèi)半導(dǎo)體芯片新材料集成電路領(lǐng)域做出精準(zhǔn)的缺陷檢測(cè),提升國(guó)內(nèi)產(chǎn)品的質(zhì)量,檢測(cè)結(jié)果得到了國(guó)際認(rèn)可。受到華為 小米 西門(mén)子 正泰 施耐德等一些業(yè)制造企業(yè)龍頭的好評(píng)。



2.射線無(wú)損檢測(cè)(RT



射線檢測(cè) 簡(jiǎn)稱RT:一般是向著工件發(fā)射X射線一種波長(zhǎng)很短的電磁波,它可以穿過(guò)可見(jiàn)光穿不透的物質(zhì),檢測(cè)質(zhì)量和成像效果與材料本身密度差異有關(guān)。一般適用具有明顯密度差異結(jié)構(gòu)的零部件,比如機(jī)場(chǎng),高鐵,地鐵里面的行李檢測(cè)設(shè)備,就是通過(guò)這種X射線的方法,比較適用于結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單材料具有明顯密度差異的工件,優(yōu)點(diǎn)是檢測(cè)速度快,檢測(cè)范圍廣泛,成像較為直觀,缺陷是對(duì)于一些密度差異不明顯,內(nèi)部結(jié)構(gòu)復(fù)雜多層的工件,面積型缺陷虛焊等判斷比如金剛石復(fù)合片缺陷檢測(cè)半導(dǎo)體芯片封裝缺陷等不容易判斷,會(huì)產(chǎn)生電離輻射對(duì)人體有一定的危害。


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3.渦流無(wú)損檢測(cè)(ET



磁粉無(wú)損檢測(cè) 簡(jiǎn)稱MT:主要用于檢測(cè)材料表面裂紋縫隙的一種檢測(cè)方法,主要原理是對(duì)材料內(nèi)部施加磁場(chǎng)使其磁化,然后觀測(cè)磁粉分布變化。成像直觀,操作方便,但是檢測(cè)材料必須具有鐵磁性,對(duì)材料內(nèi)部和精密型零部件較為困難,局限性比較大,適用于較大的工件,如鐵軌,鋼鐵板,輪船甲板等等。


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4.滲透無(wú)損檢測(cè)(PT



渦流無(wú)損檢測(cè) 簡(jiǎn)稱ET:主要利用電磁感應(yīng)原理,用激磁線圈是導(dǎo)電材料內(nèi)部產(chǎn)生渦流電,再探測(cè)工件內(nèi)的感生渦流電的方法達(dá)到檢測(cè)目的, 其優(yōu)點(diǎn)是不需要接觸檢測(cè)工件,局限性就是檢測(cè)工件必須具有導(dǎo)電性,只能檢測(cè)表面及其近表面的缺陷,成像不直觀,缺陷無(wú)法定量,需要專業(yè)人員分析判定缺陷。


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5.磁粉無(wú)損檢測(cè)(MT



滲透無(wú)損檢測(cè) 簡(jiǎn)稱PT:主要以毛細(xì)顯現(xiàn)為依據(jù)的的無(wú)損檢測(cè)技術(shù),檢測(cè)方法就是將滲透劑直接涂于檢測(cè)工件表面,對(duì)材料表面裂紋型缺陷敏感,反應(yīng)直觀,可檢測(cè)玻璃,有色金屬陶瓷等材料表面缺陷,局限性就是無(wú)法定量檢測(cè)缺陷,對(duì)材料內(nèi)部較深的缺陷無(wú)法判斷,對(duì)于多孔疏松材料難以判斷。


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